SJ/T 10739-1996 半导体集成电路 ＭＯＳ随机存储器测试方法的基本原理
作者:标准资料网
时间:2024-05-12 03:05:46
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基本信息
| 标准名称： | 半导体集成电路 ＭＯＳ随机存储器测试方法的基本原理 |
| 英文名称： | Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for MOS random access memories |
| 中标分类： | 化工 >> 化工综合 >> 技术管理 |
| 替代情况： | 原标准号GB 3443-82 |
| 发布日期： | 1996-11-20 |
| 实施日期： | 1997-01-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 2010-01-20 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 31页 |
适用范围
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前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 化工 化工综合 技术管理
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